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Unsere aktuelle Urkunde:

Wir verfügen über eine Vielzahl an eigens entwickelten und akkreditierten Mess- und Prüfverfahren.

Eine kurze Beschreibung finden Sie in der folgenden Übersicht.

Zur Datenerfassung sind wir für folgende Prüfverfahren akkreditiert:

Messverfahren

Kurzbeschreibung

st-PE-T1_2023-04

Datenerfassung mit 3D Koordinatenmessmaschinen mit taktilen Messsensoren.

st-PE-C1_2023-04

Datenerfassung mittels Computertomografie.

st-PE-3DS1_2023-04

Datenerfassung mittels 3D Scanner.

Wir sind für Ermittlung von Maß- und Formabweichungen, Erstmusterprüfungen und Soll-Ist-Abweichungen akkreditiert:

Prüfverfahren

Kurzbeschreibung

st-PA-10_2023-04

Datenauswertung 2D/3D Messdaten gegen 3D-Referenzdaten (CAD-Soll-IST-Vergleich) - Einzelpunkte (aus Punkt, Linie, Fläche).

st-PA-11_2023-04

Datenauswertung virtuell von 3D Messdaten gegen 3D Referenzdaten (Soll-Ist-Vergleich) mit/aus STL-Netzstruktur

oder CT-Datenstruktur (Falsch-Farb-Darstellung ).

st-PA-12_2023-04

Datenauswertung: Ermittlung von Regelgeometrien (Längen-, Durchmesser-, DIN-Form- und Lagemaßen) durch virtuelle Messungen

in/mit 3D Messdatensätzen

st-PA-60_2023-04

Virtuelle Lehre. Lokaler Bestfit einer Form. Zur Überprüfung der Passgenauigkeit zum Gegenstück.

st-PA-70_2023-04

Periodischer Prozessvergleich. Vollständige Prüfung auf geometrische Übereinstimmung mit einem Referenzteil

nach periodischer Überprüfung (Requalifikation).

st-PA-80_2023-04

Farbkodierte CAD Flächen. 2D/3D Bemusterung anhand farbkodierter Toleranzzuordnung am CAD Datensatz.

st-PA-100_2023-04

3D Analyse von Lunkern und Poren aus dem CT-Datensatz

st-PA-110_2023-04

2D/3D Bemusterung der Wandstärke vom STL-Datensatz

AKKREDITIERUNG

Wir sind ein akkreditiertes Prüflabor und das bereits seit 2004.

Hier finden Sie unsere aktuelle Urkunde.

Übersicht Leistungsangebot der scan-tec GmbH im akkreditierten Bereich

Prüfverfahren
Bezeichnung 1
Bezeichnung 2
SN
Kürzel
Hersteller
Hertsellerspezifikationen
Bezugsnorm
Messbereich
Ueee*
Prüfverfahren
pr-id-nUMMER
PR-000137
ATOS 3 Triple Scan MV100
MV100
140963
AT100
GOM
keine Angaben vorhanden
VDI 2634 Teil 3
0 - 100mm
0,025mm
st-PE-3DS1
PR-000201
ATOS Q12M Scan MV100
MV100
200083
AT100
GOM
keine Angaben vorhanden
VDI 2634 Teil 3
0 - 100mm
0,025mm
st-PE-3DS1
PR-000205
ATOS Q255M Scan MV100
MV100
230138
AT100
GOM
keine Angaben vorhanden
VDI 2634 Teil 3
0 - 100mm
0,025mm
st-PE-3DS1
PR-000105
Computertomograf
Metrotom 1500
136453
C01
ZEISS
L = 9μm + L / 50 nach VDI 2630
VDI/VDE 2630 VDI/VDE 2617 Blatt 13
D300 x 300mm Höhe
0,052mm/100 Raumdiagonale
st-PE-C1
PR-000049
Prismo Access
Taktiles KMG VAST- Technologie
124497
T07
ZEISS
MPEE 1.7μm + L / 300mm
DIN EN ISO 10360-2
900 x 1200 x 700mm
8,21μm
st-PE-T1
PR-000085
Spectrum (TP200)
Taktiles KMG mit TP-200
480177
T08.1
ZEISS
MPEE 2.8μm + L / 300mm
DIN EN ISO 10360-2
1000 x 1600 x 580mm
12,51μm
st-PE-T1
(*)Ueee = Messunsicherheit (e)xemplarisch (e)rmittelt (e)rweitert mit Vertrauensniveau K=2 ( Der Tabellenwert entspricht dem einer typischen Bauteilprüfung für das jeweilige Prüfverfahren.) Istwerte können größer oder kleiner sein - und - müssen bei Bedarf individuell pro Merkmal berechnet werden.

scan-tec Entscheidungsregel für Konformitätsaussagen

DIN EN ISO/IEC 17025:2018

Sehr geehrte Kundin, sehr geehrter Kunde,

gemäß der Norm DIN EN ISO/IEC 17025:2018 (Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien) besteht die Anforderung, Entscheidungsregeln eindeutig zu definieren.

Entscheidungsregeln definieren dabei wie die Konformität, basierend auf dem Messergebnis, seiner erweiterten Messunsicherheit und der zulässigen Abweichung, zu treffen ist.

Dabei ist die Konformitätsaussage immer eine Frage der Wahrscheinlichkeit, basierend auf den nach der Durchführung der Vermessung verfügbaren Informationen

(normative Regelung, Hersteller- bzw. Kundentoleranzen).

Die getroffene Entscheidungsregel der scan-tec GmbH, die bei Aussagen zur Konformität von Prüfergebnissen herangezogen wird, entspricht der DIN EN ISO/IEC 17025:2018-03 und folgt weitgehend

der ILAC-G8: 09/2019.

Entscheidungsregel für Konformitätsaussagen bei scan-tec:

Die Darstellungen der Ergebnisse und deren Dokumentation als "i.o" oder "n.i.o." oder als Farbe (rot/grün/etc...) folgen der binären Entscheidungsregel gemäß ILAC-G8:09/2019 (Kapitel 4.2.1).

Die erweiterte Messunsicherheit wird für die Bewertung nicht berücksichtigt.

Die Ergebnisse werden im Prüfbericht wie folgt gekennzeichnet:

i.o.

Der Messwert liegt, ohne Berücksichtigung der erweiterten

Messunsicherheit, innerhalb der Spezifikationsgrenzen.

n.i.o.

Der Messwert liegt, ohne Berücksichtigung der erweiterten

Messunsicherheit, außerhalb der Spezifikationsgrenzen.

Sollten Sie Rückfragen zur binären Entscheidungsregel der

scan-tec GmbH haben, können Sie sich immer gerne an uns wenden.

obere Spezifikationsgrenze untere Spezifikationsgrenze   Nominalwert   Messwert inkl. erweiterter Messunsicherheit  i.o.             i.o.          n.i.o           n.i.o. Abbildung: Entscheidungsregel scan-tec

Akkreditierung nach DIN EN ISO/IEC 17025:2018

Bitte beachten Sie folgenden Hinweis:

Nach dem Urteil des BVerwG wurde ab dem 1. Juli 2018 das neue Überwachungs- und Begutachtungskonzept eingeführt.

Unsere Akkreditierung ist somit ohne Befristung.

Die aktuelle Urkunde und Urkunden-Anlage, stellen wir Ihnen auf unserer Website zum Download bereit.

Hier finden Sie den Link, welcher Sie zur DAkkS-Datenbank Akkreditierter Stellen bringt.

Bei weiteren Fragen können Sie sich gerne an uns wenden.

LINK ZUR ANLAGE DER URKUNDE

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Akkreditierung - Was ist das?

In fast allen Bereichen unseres täglichen Lebens spielen

Bewertungsleistungen – sogenannte „Konformitätsbewertungen“ – eine

wichtige Rolle, etwa in Form von Zertifizierungen oder Inspektionen.

Doch wie können Sie den sich daraus ergebenden Prüfberichten und

Messergebnissen Glauben schenken?

Das Vertrauen in die Resultate dieser Bewertungsleistungen steht und

fällt mit der Glaubwürdigkeit und dem fachlichen Können derjenigen,

die diese Dienstleistungen erbringen: Konformitätsbewertungsstellen.

Wir die scan-tec GmbH können Ihnen dies bieten, denn unsere

Kompetenz wird in regelmäßigen Überwachungen durch die Deutsche

Akkreditierungsstelle (DAkkS) bestätigt.

Unsere Kompetenz bezieht sich auf die Durchführung von individuellen

Prüfungen in der Nachweisform DIN EN ISO IEC 17025:2018. Unsere

Labornummer: PL-19449-1.

Akkreditierung - Das bedeudet es für Sie:

Kompetente Betreuung in allen Auftragsphasen (Angebot,

Prüfstrategie, Ergebnisinterpretation...)

Qualifizierte Durchführung und Dokumentation der Prüfungen

Stellung eines unabhängigen Dritten

Rückführbare und belastbare Messergebnisse

Einhaltung von Umgebungsdedingungen

Messergenisse sind gemäß der Akkreditierungsurkunde

in vielen Ländern anerkannt

Ordentliche Handhabung und Kennzeichnung von Prüfteilen

Archivierte Prüfergebnisse

Sie erhalten einen DAkkS-Akkreditierten Prüfbericht

Unsere aktuelle Urkunde:

Wir verfügen über eine Vielzahl an eigens entwickelten und akkreditierten Mess-

und Prüfverfahren.

Eine kurze Beschreibung finden Sie in der folgenden Übersicht.

Zur Datenerfassung sind wir für folgende Prüfverfahren akkreditiert:

Messverfahren

Kurzbeschreibung

st-PE-T1_2023-04

Datenerfassung mit 3D Koordinatenmessmaschinen mit

taktilen Messsensoren.

st-PE-C1_2023-04

Datenerfassung mittels Computertomografie.

st-PE-3DS1_2023-04

Datenerfassung mittels 3D Scanner.

Wir sind für Ermittlung von Maß- und Formabweichungen,

Erstmusterprüfungen und Soll-Ist-Abweichungen akkreditiert:

Prüfverfahren

Kurzbeschreibung

st-PA-10_2023-04

Datenauswertung 2D/3D Messdaten gegen

3D-Referenzdaten (CAD-Soll-IST-Vergleich) - Einzelpunkte

(aus Punkt, Linie, Fläche).

st-PA-11_2023-04

Datenauswertung virtuell von 3D Messdaten gegen

3D Referenzdaten (Soll-Ist-Vergleich) mit/aus STL-

Netzstruktur oder CT-Datenstruktur (Falsch-Farb-

Darstellung ).

st-PA-12_2023-04

Datenauswertung: Ermittlung von Regelgeometrien

(Längen-, Durchmesser-, DIN-Form- und Lagemaßen)

durch virtuelle Messungen in/mit 3D Messdatensätzen

st-PA-60_2023-04

Virtuelle Lehre. Lokaler Bestfit einer Form.

Zur Überprüfung der Passgenauigkeit zum Gegenstück.

st-PA-70_2023-04

Periodischer Prozessvergleich: Vollständige Prüfung

auf geometrische Übereinstimmung mit einem

Referenzteil nach periodischer Überprüfung

(Requalifikation).

st-PA-80_2023-04

Farbkodierte CAD Flächen. 2D/3D Bemusterung anhand

farbkodierter Toleranzzuordnung am CAD Datensatz.

st-PA-100_2023-04

3D Analyse von Lunkern und Poren aus dem

CT-Datensatz

st-PA-110_2023-04

2D/3D Bemusterung der Wandstärke vom

STL-Datensatz

AKKREDITIERUNG

Wir sind ein akkreditiertes Prüflabor und das bereits seit 2004.

Hier finden Sie unsere aktuelle Urkunde.

Bitte beachten Sie folgenden Hinweis:  Nach dem Urteil des BVerwG wurde ab dem 1. Juli 2018  das neue Überwachungs- und Begutachtungskonzept eingeführt. Unsere Akkreditierung ist somit ohne Befristung.   Die aktuelle Urkunde und Urkunden-Anlage, stellen wir Ihnen auf unserer Website zum Download bereit.  Hier finden Sie den Link, welcher Sie zur DAkkS-Datenbank Akkreditierter  Stellen bringt.  Link zu: DAkkS Akkreditierte Stellen - D-PL-19449-01-00  Bei weiteren Fragen können Sie sich gerne an uns wenden.
Prüfverfahren
PR-000137
PR-000201
PR-000205
PR-000105
PR-000049
PR-000085
Bezeichnung 1
ATOS 3 Triple Scan MV100
ATOS Q12M Scan MV100
ATOS Q255M Scan MV100
Computer- tomograf
Prismo Access
Spectrum (TP200)
Bezeichnung 2
MV100
MV100
MV100
Metrotom 1500
Taktiles KMG VAST- Technologie
Taktiles KMG mit TP-200
SN
140963
200083
230138
136453
124497
480177
Kürzel
AT100
AT100
AT100
C01
T07
T08.1
Hersteller
GOM
GOM
GOM
ZEISS
ZEISS
ZEISS
Hertsellerspezi- fikationen
k. A. vorhanden
k. A. vorhanden
k. A. vorhanden
L = 9μm + L / 50
MPEE 1.7μm + L / 300mm
MPEE 2.8μm + L / 300mm
Bezugsnorm
VDI 2634 Teil 3
VDI 2634 Teil 3
VDI 2634 Teil 3
VDI/VDE 2630 VDI/VDE 2617 Blatt 13
DIN EN ISO 10360-2
DIN EN ISO 10360-2
Messbereich
0 - 100mm
0 - 100mm
0 - 100mm
D300 x 300mm Höhe
900 x 1200 x 700mm
1000 x 1600 x 580mm
Ueee*
0,025mm
0,025mm
0,025mm
0,052mm/100 Raumdiagonale
8,21μm
12,51μm
Prüfverfahren
st-PE-3DS1
st-PE-3DS1
st-PE-3DS1
st-PE-C1
st-PE-T1
st-PE-T1

Übersicht Leistungsangebot der scan-tec GmbH

im akkreditierten Bereich

(*)Ueee = Messunsicherheit (e)xemplarisch (e)rmittelt (e)rweitert mit Vertrauensniveau K=2 (Der Tabellenwert entspricht dem einer typischen Bauteilprüfung für das jeweilige Prüfverfahren.) Istwerte können größer oder kleiner sein - und - müssen bei Bedarf individuell pro Merkmal berechnet werden.

scan-tec Entscheidungsregel für

Konformitätsaussagen

DIN EN ISO/IEC 17025:2018

Sehr geehrte Kundin, sehr geehrter Kunde,

gemäß der Norm DIN EN ISO/IEC 17025:2018 (Allgemeine

Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien)

besteht die Anforderung, Entscheidungsregeln eindeutig zu definieren.

Entscheidungsregeln definieren dabei wie die Konformität, basierend auf

dem Messergebnis, seiner erweiterten Messunsicherheit und der

zulässigen Abweichung, zu treffen ist.

Dabei ist die Konformitätsaussage immer eine Frage der

Wahrscheinlichkeit, basierend auf den nach der Durchführung der

Vermessung verfügbaren Informationen

(normative Regelung, Hersteller- bzw. Kundentoleranzen).

Die getroffene Entscheidungsregel der scan-tec GmbH, die bei Aussagen

zur Konformität von Prüfergebnissen herangezogen wird, entspricht der

DIN EN ISO/IEC 17025:2018-03 und folgt weitgehend

der ILAC-G8: 09/2019.

Entscheidungsregel für Konformitätsaussagen bei scan-tec:

Die Darstellungen der Ergebnisse und deren Dokumentation als "i.o"

oder "n.i.o." oder als Farbe (rot/grün/etc...) folgen der binären

Entscheidungsregel gemäß ILAC-G8:09/2019 (Kapitel 4.2.1).

Die erweiterte Messunsicherheit wird für die Bewertung nicht

berücksichtigt.

Die Ergebnisse werden im Prüfbericht wie folgt gekennzeichnet:

i.o.

Der Messwert liegt, ohne Berücksichtigung der erweiterten

Messunsicherheit, innerhalb der Spezifikationsgrenzen.

n.i.o.

Der Messwert liegt, ohne Berücksichtigung der erweiterten

Messunsicherheit, außerhalb der Spezifikationsgrenzen.

Sollten Sie Rückfragen zur binären Entscheidungsregel der

scan-tec GmbH haben, können Sie sich immer gerne an uns wenden.

obere Spezifikationsgrenze untere Spezifikationsgrenze   Nominalwert   Messwert inkl. erweiterter Messunsicherheit  i.o.             i.o.          n.i.o           n.i.o. Abbildung: Entscheidungsregel scan-tec